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https://ri.ufs.br/jspui/handle/riufs/493
Tipo de Documento: | Trabalhos em Eventos |
Título : | Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria |
Autor : | Potiens, Maria da Penha Albuquerque Maia, Ana Figueiredo Vivolo, Vitor Caldas, Linda Viola Ehlin |
Fecha de publicación : | sep-2004 |
Resumen : | Foi realizada a espectrometria do sistema de radiação X, marca SIEMENS, modelo Stabilipan, pertencente ao Laboratório de Calibração de Instrumentos do IPEN. Este sistema será utilizado para a calibração de instrumentos de medidas de radioproteção e de radiodiagnóstico em sistemas de radiação X. A espectrometria foi realizada variando a tensão aplicada ao tubo de 60 a 150 kV. Para se diminuir o empilhamento de pulsos presente no fim dos espectros, foram adicionados filtros de alumínio na saída do feixe de radiação X. |
Palabras clave : | Espectometria Raios X Radiação Calibração de instrumentos |
Citación : | MAIA, A. F. et al. Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria. In: CONGRESSO IBERO LATINO AMERICANO E DO CARIBE DE FÍSICA MÉDICA, 3., 2004, Rio de Janeiro. Anais... Rio de Janeiro: ABFM, 2004. Disponível em: <http://www.abfm.org.br/c2004/trabalhos/wepo310.pdf>. Acesso em: 3 maio 2013. |
URI : | https://ri.ufs.br/handle/riufs/493 |
Aparece en las colecciones: | DFI - Trabalhos apresentados em eventos |
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