Please use this identifier to cite or link to this item: http://ri.ufs.br/jspui/handle/riufs/493
Document Type: Trabalhos em Eventos
Title: Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria
Authors: Potiens, Maria da Penha Albuquerque
Maia, Ana Figueiredo
Vivolo, Vitor
Caldas, Linda Viola Ehlin
Issue Date: Sep-2004
Abstract: Foi realizada a espectrometria do sistema de radiação X, marca SIEMENS, modelo Stabilipan, pertencente ao Laboratório de Calibração de Instrumentos do IPEN. Este sistema será utilizado para a calibração de instrumentos de medidas de radioproteção e de radiodiagnóstico em sistemas de radiação X. A espectrometria foi realizada variando a tensão aplicada ao tubo de 60 a 150 kV. Para se diminuir o empilhamento de pulsos presente no fim dos espectros, foram adicionados filtros de alumínio na saída do feixe de radiação X.
Keywords: Espectometria
Raios X
Radiação
Calibração de instrumentos
Citation: MAIA, A. F. et al. Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria. In: CONGRESSO IBERO LATINO AMERICANO E DO CARIBE DE FÍSICA MÉDICA, 3., 2004, Rio de Janeiro. Anais... Rio de Janeiro: ABFM, 2004. Disponível em: <http://www.abfm.org.br/c2004/trabalhos/wepo310.pdf>. Acesso em: 3 maio 2013.
URI: https://ri.ufs.br/handle/riufs/493
Appears in Collections:DFI - Trabalhos apresentados em eventos

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
CalibraçãoSistemaRadiação.pdf89,12 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.