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Tipo de Documento: Trabalhos em Eventos
Título: Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria
Autor(es): Potiens, Maria da Penha Albuquerque
Maia, Ana Figueiredo
Vivolo, Vitor
Caldas, Linda Viola Ehlin
Data do documento: Set-2004
Abstract: Foi realizada a espectrometria do sistema de radiação X, marca SIEMENS, modelo Stabilipan, pertencente ao Laboratório de Calibração de Instrumentos do IPEN. Este sistema será utilizado para a calibração de instrumentos de medidas de radioproteção e de radiodiagnóstico em sistemas de radiação X. A espectrometria foi realizada variando a tensão aplicada ao tubo de 60 a 150 kV. Para se diminuir o empilhamento de pulsos presente no fim dos espectros, foram adicionados filtros de alumínio na saída do feixe de radiação X.
Palavras-chave: Espectometria
Raios X
Radiação
Calibração de instrumentos
Citação: MAIA, A. F. et al. Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria. In: CONGRESSO IBERO LATINO AMERICANO E DO CARIBE DE FÍSICA MÉDICA, 3., 2004, Rio de Janeiro. Anais... Rio de Janeiro: ABFM, 2004. Disponível em: <http://www.abfm.org.br/c2004/trabalhos/wepo310.pdf>. Acesso em: 3 maio 2013.
URI: https://ri.ufs.br/handle/riufs/493
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