1. Repositório Institucional da Universidade Federal de Sergipe - RI/UFS
  2. PRODUÇÃO CIENTÍFICA
  3. DFI - Departamento de Física (São Cristóvão)
  4. DFI - Trabalhos apresentados em eventos
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorPotiens, Maria da Penha Albuquerque-
dc.contributor.authorMaia, Ana Figueiredo-
dc.contributor.authorVivolo, Vitor-
dc.contributor.authorCaldas, Linda Viola Ehlin-
dc.date.accessioned2013-05-03T16:59:20Z-
dc.date.available2013-05-03T16:59:20Z-
dc.date.issued2004-09-
dc.identifier.citationMAIA, A. F. et al. Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria. In: CONGRESSO IBERO LATINO AMERICANO E DO CARIBE DE FÍSICA MÉDICA, 3., 2004, Rio de Janeiro. Anais... Rio de Janeiro: ABFM, 2004. Disponível em: <http://www.abfm.org.br/c2004/trabalhos/wepo310.pdf>. Acesso em: 3 maio 2013.pt_BR
dc.identifier.urihttps://ri.ufs.br/handle/riufs/493-
dc.description.abstractFoi realizada a espectrometria do sistema de radiação X, marca SIEMENS, modelo Stabilipan, pertencente ao Laboratório de Calibração de Instrumentos do IPEN. Este sistema será utilizado para a calibração de instrumentos de medidas de radioproteção e de radiodiagnóstico em sistemas de radiação X. A espectrometria foi realizada variando a tensão aplicada ao tubo de 60 a 150 kV. Para se diminuir o empilhamento de pulsos presente no fim dos espectros, foram adicionados filtros de alumínio na saída do feixe de radiação X.pt_BR
dc.language.isopt_BRpt_BR
dc.subjectEspectometriapt_BR
dc.subjectRaios Xpt_BR
dc.subjectRadiaçãopt_BR
dc.subjectCalibração de instrumentospt_BR
dc.titleCaracterização de um sistema de radiação X por espectrometriapt_BR
dc.typeTrabalhos em Eventospt_BR
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